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激光對中儀電射Laser一詞為Light Amplification by Stimulated Emission of Radiation的簡稱，雷射光與一般光源最大的不同在于雷射光為同相位、同波長的單一光波。目前使用中的各種不同雷射光源的雷射光波介于100~10000×10-9M之間。以目前應用于現場量測的雷射量測系統而言大都使用波長介于630~950nm間的由雷射二極體(Laser Diode)所發(fā)射出來的雷射光或稱為半導體雷射。

半導體雷射發(fā)射器所發(fā)射的光波分為可見光及不可見光，其可見光波長介于光譜上的紅色部分，因此可見光的半導體雷射發(fā)射器所發(fā)出的光為紅色，光波波長大于700nm時屬于不可見光，半導體雷射的有效量測范圍可長達數十公尺。

近年來隨著半導體製程技術的進步，使得半導體雷射的體積大幅縮小，可以應用槧多樣的場合中，且半導體雷射具有體積小、攜帶方便，量測精度高等特性，在需要量測精度高的場合已逐漸取代傳統的量測方式。

雷射幾何量測系統主要包含四個組件，半導體雷射發(fā)射器、各種量測治具套件位置感測器及訊號處理單元。

雷射校正系統目前被廣泛使用于軸對心與皮帶輪對心，但如果能了解雷射量測的原理、三角幾何觀念，再加上一點想像力，就能將點、線、面的量測擴展到直線度、平面度、垂直度、平行度、圓孔中心線、工具機主軸角度定位等量測校正。

雷射發(fā)射器所發(fā)射出來的雷射就如同一條倍拉緊的鋼琴線一樣，成為一個量測校正的基準線，在量測過程中永遠固定不動。而雷射接收器的接收面板就如同一把精確度相當高的尺，能夠精確地讀取量測點到基準線(雷射)之間的距離，如此一來，我們便掌握了最基本的直線度量測校正的原理。如果任取其中二個量測點做為新的基準線，就能計算出其他量測點到新的基準線的偏差值。

如果雷射發(fā)射器所發(fā)射出來的雷射可以在某一個定點上 360 度旋轉，于是雷射就形成了一個量測校正的基準面，在量測過程中，同樣保持這個基準面永遠固定不動，而雷射接收器在某一個量測面，能夠精確地讀取每一個量測點到基準面之間的距離，如此一來，我們便可以進行平面度的量測校正了。如果任取其中三個量測點做為新的基準面，就能計算出其他量測點到新的基準面的偏差值。

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